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ZJ-5型積層壓電測(cè)試儀（積層靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量積層壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的儀器，它可用來測(cè)量具有積層大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。ZJ-5型積層靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x測(cè)量范圍寬，分辨率細(xì)，可靠性高，操作簡(jiǎn)單，對(duì)試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量。

Radiant Multiferroic II鐵電材料測(cè)試儀無需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV和IC的測(cè)試。配備額外的模塊，可實(shí)現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測(cè)試。 Multiferroic II提供了多種內(nèi)部放大器，±100V/200V/500v內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓的可供選擇?？赏庵脭U(kuò)展10KV的高壓接口和一個(gè)放大器。系統(tǒng)包括可視化數(shù)據(jù)采

TDJC-5000型電滯回線及高電壓介電擊穿強(qiáng)度測(cè)試系統(tǒng)是一款高量程款的鐵電性能材料測(cè)試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、可測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜值。同時(shí)可以進(jìn)行擊穿測(cè)試，可以進(jìn)行電致應(yīng)變測(cè)試，可以蝴蝶曲線功能，設(shè)備還可以擴(kuò)展高溫電阻，高溫介電，電容-電壓曲線，TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、

GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。是一款超低頻高低溫四通道介電測(cè)試系統(tǒng)，科研級(jí)別是國(guó)家科研院所和高等學(xué)府選用設(shè)備。

HTIM-1600超高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路，能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量?？蓪?shí)現(xiàn)絕緣材料

本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測(cè)試平臺(tái)（配鐵電測(cè)試盒）或高低溫探針臺(tái)（配高壓探針）、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能，主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口，可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測(cè)試時(shí)，無需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性