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2019-05-16
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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,航空航天,綜合 |
GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：高溫介電，0.1HZ-20MHZ，-160℃-1000℃
GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測試。是一款超低頻高低溫四通道介電測試系統(tǒng)，科研級別是國家科研院所和高等學(xué)府選用設(shè)備。
一、主要用途：
1、測量以下參數(shù)隨溫度（T）、頻率（f）、電平（V）、偏壓（Vi）的變化規(guī)律：
2、測量電容（C）、電感（L）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、電導(dǎo)（G）、電納（B）、導(dǎo)納（Y）、損耗因子（D）、品質(zhì)因素（Q）等參數(shù)，
3、同時計算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電、介電性能的復(fù)介電常數(shù)（εr）和介質(zhì)損耗（D）參數(shù)。
4、可測試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能
5、可以根據(jù)用戶需求，定制開發(fā)居里溫度點Tc、機電耦合系數(shù)Kp、機械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測量與分析。系統(tǒng)集低溫環(huán)境、溫度控制、樣品安裝于一體；具有體積小、操作簡單控溫精度高等特點。
二、主要技術(shù)參數(shù)：
主要技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍： -160℃-600℃，測溫精度： 0.1℃
2、頻率范圍： 0.1HZ-20MHZ（高頻可選）
3、分辨率：1HZ
4．升溫速度： 1—20℃/min
5、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式
6、通訊接口： RS-485
7、電極材質(zhì)： 鉑銥合金
8、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層
9、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層
10、保護電極： 帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響
11、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩
12、夾具升降控制： 帶程序和手動控制，可更換夾具的電動升降裝置
13、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致
14、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm
15、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm
16、軟件功能：自動分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
18、測量方案： 提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合
17、標準極化樣品：8片（10mm*1.5mm）
18、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進行測量
19、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具
20、測試電平:100mV—2V
21、輸出阻抗: 100Ω
22、測試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
23、基本準確度: 0.05%
24、顯示:液晶顯示
25、參數(shù)測量：多功能圖形和參數(shù)測量
26、接口方式: RS232C或HANDLER
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