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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 材料電學(xué)性能測(cè)試儀 > 高溫介電材料測(cè)試儀 > FWJD-600一體化粉末高溫介電溫譜儀(支持來(lái)樣測(cè)試）
廠商性質(zhì)
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | Grace儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣 | 尺寸 | 550MM*560MM*750MM |
FWJD-600型粉末高溫介電溫譜儀
關(guān)鍵詞：介電常數(shù)，粉末，液體，塊體
三個(gè)支持：貨到驗(yàn)收后付款，支持免費(fèi)上門培訓(xùn)，支持來(lái)樣測(cè)試
隨著固體粉末在化工、航天、醫(yī)藥、食品、塑料制品等行業(yè)越來(lái)越廣泛的應(yīng)用，必然需要更多、更精確的以工藝過(guò)程控制、產(chǎn)品混合均勻度測(cè)試、物料含量檢測(cè)等為目的的儀器，以期優(yōu)化產(chǎn)品的過(guò)程控制、提高產(chǎn)品質(zhì)量，FWJD-600型粉末高溫介電溫譜儀是一款新型的高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)用于粉末，薄膜，塊體和液體的高溫介電常數(shù)測(cè)試，是研究不同材料在高溫環(huán)境下隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和損耗參數(shù)。是科研機(jī)關(guān)﹑學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料應(yīng)用研究的重要設(shè)備。
設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM D150和D2149-97國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
GB/T1409-2006國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
一、主要特點(diǎn)：
1、可以兼容粉末，陶瓷，液體等多種不同物理性質(zhì)的樣品測(cè)試
2、變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用復(fù)數(shù)電流法，測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。
3、儀器采用了變頻技術(shù)來(lái)消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)。
4、儀器操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。
5、反接線測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象
6、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kVCVT母線接地情況下，對(duì)c11可進(jìn)行不拆線10kV反接線介損測(cè)量
二、主要技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：室溫-600℃，800℃，1000℃（可以定制）
2、控溫精度：全溫區(qū)范圍內(nèi)≤±0.3℃
3、測(cè)溫精度：0.1℃
4、頻率：10HZ-120MHZ
5、電極結(jié)構(gòu)：全新三電極創(chuàng)新設(shè)計(jì)
6、控溫模式：常溫，恒溫，高溫，多種組合
7、校準(zhǔn)方式：自帶設(shè)備校準(zhǔn)功能，確保精度
8、測(cè)試電極：鉑依金電極+轉(zhuǎn)換電極
9、屏蔽：同軸線纜屏蔽，消除電磁干擾對(duì)測(cè)試影響
10、介電夾具：專用粉末夾具，薄膜夾具，陶瓷三件套
11、軟件功能：頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化曲線，數(shù)據(jù)導(dǎo)入，曲線成圖自動(dòng)生產(chǎn)
12、數(shù)據(jù)傳輸方式：高速USB
13、設(shè)備尺寸：550MM*560MM*750MM
兼容國(guó)內(nèi)外各種儀表
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